掲載会社情報

日本電子(株)

住所: 196-8558 東京都昭島市武蔵野 3-1-2
TEL: 042-543-1111(代)
FAX: 042-546-3353(代)
URL: http://www.jeol.co.jp/
担当者: 最寄りの営業所もしくは、弊社WEBページなどからお問い合わせください。
E-Mail: webmaster@jeol.co.jp

営業所等

札幌(TEL:011-726-9680)/仙台(TEL:022-222-3324)/筑波(TEL:029-856-3220)/
東京(TEL:03-6262-3580)/名古屋(TEL:052-581-1406)/大阪(TEL:06-6304-3941)/
広島(TEL:082-221-2500)/高松(TEL:087-821-0053)/福岡(TEL:092-411-2381)

営業品目

透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡/イオンビーム応用装置/微小領域分析・表面分析装置/蛍光X線分析装置/質量分析計/核磁気共鳴装置/電子スピン共鳴装置

掲載製品一覧

製品名 価格 分類
複合ビーム加工観察装置 JIB-4700F 価格は別途お問い合わせください 上記以外の電磁気分析装置
大気圧イオン化飛行時間型質量分析計 JMS-T100LP AccuTOFTM LC-Plus 4G 価格は別途お問い合わせください 質量分析装置(LC/MS)
MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF-plus 価格は別途お問い合わせください 上記以外の質量分析装置
ガスクロマトグラフ飛行時間型質量分析計 JMS-T2000GC AccuTOFTM GC-Alpha 価格は別途お問い合わせください 質量分析装置(GC/MS)
ガスクロマトグラフ四重極質量分析計 JMS-Q1500GC 価格は別途お問い合わせください 質量分析装置(GC/MS)
電界放出形クライオ電子顕微鏡 CRYO ARMTM 300Ⅱ (JEM-3300) 価格は別途お問い合わせください 透過電子顕微鏡
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT800 価格は別途お問い合わせください 走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 JSM-IT700HR InTouchScopeTM 価格は別途お問い合わせください 走査電子顕微鏡
集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000PLUS 価格は別途お問い合わせください 上記以外の電磁気分析装置
マルチイオン化-未知物質解析システム JMS-T2000GC MultiAnalyzer 価格は別途お問い合わせください 質量分析装置(GC/MS)
ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計 JMS-TQ4000GC 価格は別途お問い合わせください 質量分析装置(GC/MS)
多重周回飛行時間質量分析計 JMS-MT3010HRGA 価格は別途お問い合わせください 上記以外の質量分析装置
FT-NMR装置 JNM-ECZRシリーズ 価格は別途お問い合わせください 磁気共鳴装置
ESR装置 JES-X3シリーズ 価格は別途お問い合わせください 磁気共鳴装置
FT-NMR装置 JNM-ECZSシリーズ 価格は別途お問い合わせください 磁気共鳴装置
ポータブルガスクロマトグラフ GC-8610T 価格は別途お問い合わせください ガスクロマトグラフ
クロスセクションポリッシャ™ IB-19530CP 価格は別途お問い合わせください 上記以外の電子線応用装置
冷却クロスセクションポリッシャ™ IB-19520CCP 価格は別途お問い合わせください 上記以外の電子線応用装置
軟X線分光器シリーズ 価格は別途お問い合わせください 上記以外のX 線分析装置
エネルギー分散形蛍光X線分析装置 JSX-1000S ElementEyeTM 価格は別途お問い合わせください 蛍光X 線分析装置
フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ JXA-iHP200F 価格は別途お問い合わせください 電子線マイクロアナライザ(EPMA)
卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 NeoScope™ 価格は別途お問い合わせください 走査電子顕微鏡