日本電子株式会社
| 住所： | 196-8558 東京都昭島市武蔵野 3-1-2 |
|---|---|
| TEL： | 042-543-1111(代) |
| FAX： | 042-546-3353(代) |
| URL： | http://www.jeol.co.jp/ |
| 担当者： | 最寄りの営業所もしくは、弊社WEBページなどからお問い合わせください。 |
| E-Mail： | webmaster@jeol.co.jp |
トピックス
-
2018-05-17【講習】新コースのご案内：ウルトラミクロトーム実践コース
ウルトラミクロトームによる試料作製およびその周辺手法について、持参サンプルや観察装置、観察目的に合わせた方法をご提案しながら実習致します。 -
2017-01-31【WEBセミナー】改正RoHS指令の動向と新規対象物質の分析方法について 開催日:2017年2月24日(金) 16:00～16:25
『改正RoHS指令の動向と分析方法について』と題して、ガスクロマトグラフ四重極質量分析計JMS-Q1500GCを中心としたWebセミナーを開催いたします。 -
2017-01-20【WEBセミナー】クロスセクションポリッシャ(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理 開催日：2017年1月27日(金) 16:00～16:30『クロスセクションポリッシャ(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理』という題目で、Liイオン電池材料のためのCP活用事例を紹介いたします。
-
2016-12-27【WEBセミナー】最新のX線光電子分光法（XPS）によるLiイオン電池材料解析
開催日:2017年1月20日(金) 16:00～16:30
『最新のXPSによるLiイオン電池材料解析』という題目で、X線光電子分光法(XPS)を使った最新のアプリケーションを紹介いたします。 -
2016-12-27【WEBセミナー】最新のオージェ電子分光法（AES）によるLiイオン電池材料解析
開催日：2017年1月13日(金) 16:00～16:30
『最新のオージェ電子分光法（AES）によるLiイオン電池材料解析』という題目で、オージェ電子分光法(AES)を使った最新のアプリケーションを紹介いたします。 -
2016-12-07【WEBセミナー】FE-EPMAの更なる進化～微量分析を10倍速くする～
開催日：2016年12月9日(金) 16:00～16:30
JXA-8530FPlusは、インレンズショットキーPlus FEGを搭載しており大照射電流での分析に対応しております。本セミナーでは、JXA-8530FPlusの特徴と、微量分析を高速化する新機能について紹介します。 -
2016-07-14【WEBセミナー】光イオン化(PI)法を用いたGC/QMSによる材料分野への新しいアプローチ
ガスクロマトグラフ質量分析計JMS-Q1500GCのPI法を中心にWEBセミナーを開催いたします。
2016年7月21日(木) 16:00～16:30 -
2016-07-07【やさしい科学】
電子ビーム金属3Dプリンターを掲載しました -
2016-04-01【WEBセミナー】RoHS指令の現状と蛍光X線分析装置・質量分析計による規制物質スクリーニングのご紹介
RoHS指令の現状と、JSX-1000S (ED-XRF：エネルギー分散型蛍光X線分析装置)とJMS-Q1500GC（GC-MS：ガスクロマトグラフ質量分析計）による規制物質スクリーニング紹介のWEBセミナーを開催いたします。
2016年4月15日(金) 16:00～16:30 -
2016-03-18【WEBセミナー】JEM-ARM200Fにおける低加速性能の向上
『JEM-ARM200Fにおける低加速性能の向上』と題して、収差補正装置付き電子顕微鏡における低加速性能に関するWebセミナーを開催いたします。
2016年3月25日(金) 16:00～16:20 -
2016-02-24【WEBセミナー】電子顕微鏡用軟X線分光器の原理、特徴と応用
2016/3/18(金) 16:00～16:30 -
2016-02-24【出展案内 第7回［国際］二次電池展 ～バッテリー ジャパン～】2016/3/2(水)～4日(金)、ブース：西3ホール W20-42、国際二次電池展において「JEOL's Technology」を市場へのメッセージとし、豊富なラインナップをはじめ、革新電池の先端技術・材料開発に向けたソリューションをご紹介します。
-
2015-11-17【出展案内 SEMICON Japan2015】
2015/12/16(水)～18(金)、ブースNo.1528
「JEOL Inspection System for Semiconductor」として半導体分野に対する解析装置のご紹介を行います。 -
2015-11-12【新製品】複合ビーム加工観察装置 JIB-4610F
JIB-4610Fはショットキータイプの電子銃を搭載した使い易いアウトレンズタイプの走査電子顕微鏡（SEM）と大電流加工（最大イオン電流90nA）を可能にした新しいFIB鏡筒を一つのチャンバーに搭載した装置です。
営業所等
札幌(TEL:011-726-9680)/仙台(TEL:022-222-3324)/筑波(TEL:029-856-3220)/ 東京(TEL:03-6262-3580)/名古屋(TEL:052-581-1406)/大阪(TEL:06-6304-3941)/ 広島(TEL:082-221-2500)/高松(TEL:087-821-0053)/福岡(TEL:092-411-2381)
営業品目
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡/イオンビーム応用装置/微小領域分析・表面分析装置/蛍光Ｘ線分析装置/質量分析計/核磁気共鳴装置/電子スピン共鳴装置
