走査電子顕微鏡 JSM-IT510
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より早く、より簡単に観察分析データを取得したいニーズに応え、スループットの向上を図るために当社InTouchScopeTMの操作性をさらに進化させました。
●SimpleSEM:SEMの取得条件と視野の選択を行うだけで、あとは自動でSEM像の取得を行う機能です。ルーティンワークの効率化が可能です。
●低真空ハイブリッド二次電子検出器:本検出器は、二次電子が残量ガス分子に衝突した際に発生する電子と励起光を検出することで、低真空下でも詳細な凹凸情報が得られます。
●ステーションナビゲーションシステムLS:従来機種の4倍のエリア(200㎜×200㎜)の光学像の取得が可能です。
日本電子(株)
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営業品目
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡/イオンビーム応用装置/微小領域分析・表面分析装置/蛍光X線分析装置/質量分析計/核磁気共鳴装置/電子スピン共鳴装置