アルバック・ファイ株式会社
住所: | 253-8522 茅ヶ崎市萩園2500 |
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TEL: | 0467-85-6522 |
FAX: | 0467-85-9406 |
URL: | https://www.ulvac-phi.com |
担当者: | |
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トピックス
営業所等
営業品目
各種表面分析装置[走査型X線光電子分光分析(XPS)、 硬X線光電子分光分析(HAXPES)、二次イオン質量分析(SIMS)、 走査型オージェ電子分光分析(AES)]、各種オプション ほか
掲載製品一覧
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フィールドエミッション型オージェ電子分光分析装置 PHI 710 | お問い合わせください | オージェ電子分光装置(AES) |
フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI GENESIS | お問い合わせください | 光電子分光装置(XPS、ESCA) |
二次イオン質量分析装置 PHI ADEPT-1010 | お問い合わせください | 上記以外の質量分析装置 |
飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF 3+ | お問い合わせください | 上記以外の質量分析装置 |