アルバック・ファイ(株)
| 住所： | 253-8522 茅ヶ崎市萩園2500 |
|---|---|
| TEL： | 0467-85-6522 |
| FAX： | 0467-85-9406 |
| URL： | https://www.ulvac-phi.com |
| 担当者： | |
| E-Mail： |
トピックス
営業所等
営業品目
各種表面分析装置［走査型X線光電子分光分析装置（XPS）、 硬X線光電子分光分析装置（HAXPES）、二次イオン質量分析装置（SIMS）、 走査型オージェ電子分光分析装置（AES）］、各種オプション ほか
掲載製品一覧
製品名 |
価格 |
分類 |
|---|---|---|
| フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI GENESIS | お問い合わせください | 光電子分光装置（XPS、ESCA） |
| 飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF 3+ | お問い合わせください | 上記以外の質量分析装置 |
| 走査型オージェ電子分光分析装置 PHI 4800 | お問い合わせください | オージェ電子分光装置（AES） |
| フィールドエミッション型オージェ電子分光分析装置 PHI 710 | お問い合わせください | オージェ電子分光装置（AES） |
| 二次イオン質量分析装置 PHI ADEPT-1010 | お問い合わせください | 上記以外の質量分析装置 |