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WEB科学機器総覧

アルバック・ファイ(株)

住所: 253-8522 茅ヶ崎市萩園2500
TEL: 0467-85-6522
FAX: 0467-85-9406
URL: https://www.ulvac-phi.com
担当者:  
E-Mail:

トピックス

営業所等

営業品目

各種表面分析装置[走査型X線光電子分光分析装置(XPS)、硬X線光電子分光分析装置(HAXPES)、二次イオン質量分析装置(SIMS)、走査型オージェ電子分光分析装置(AES)]、各種オプション ほか

掲載製品一覧
製品名 価格 分類
走査型デュアルX線光電子分光分析装置 PHI Quantes お問い合わせください 光電子分光装置(XPS、ESCA)
飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF 3 お問い合わせください 上記以外の質量分析装置
走査型オージェ電子分光分析装置 PHI 4800 お問い合わせください オージェ電子分光装置(AES)
多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI VersaProbe 4 お問い合わせください 光電子分光装置(XPS、ESCA)
自動走査型X線光電子分光分析装置 PHI X-tool お問い合わせください 光電子分光装置(XPS、ESCA)
フィールドエミッション型オージェ電子分光分析装置 PHI 710 お問い合わせください オージェ電子分光装置(AES)
二次イオン質量分析装置 PHI ADEPT-1010 お問い合わせください 上記以外の質量分析装置
走査型X線光電子分光分析装置 PHI QuanteraⅡ お問い合わせください 光電子分光装置(XPS、ESCA)