(株)日本レーザー
| 住所： | 169-0051 東京都新宿区西早稲田2-14-1 |
|---|---|
| TEL： | 03-5285-0861 |
| FAX： | 03-5285-0860 |
| URL： | https://www.japanlaser.co.jp/ |
| 担当者： | 営業本部 |
| E-Mail： | jlc@japanlaser.co.jp |
レーザー専門商社の草分けとして1968年に設立され、レーザー技術を日本市場に紹介したパイオニア的存在として業界では認知されています。
現在では、レーザーおよび光関連製品の海外メーカーと代理店契約を結び、世界各国から優れた製品を輸入すると共に、自社製品開発も手がけています。取扱製品の概要は以下のとおりですが、詳細はWEBサイトをご覧ください。
レーザー：あらゆる業種・用途に対応できる多彩な最先端レーザー製品
アクセサリー：光学部品や変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、保護メガネなど
計測応用装置：粒子径分布測定、流体・粒子サイズ測定、半導体・FPD関連検査装置、サーモカメラなどの最先端機器・装置
加工応用装置：半導体・液晶・マイクロマシン・ナノテクノロジーなどの技術に対応した各種装置
トピックス
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2024-08-08【OptoFidelity社のAR導光板の研究開発・製造向けテストシステムの提供を開始】OptoFidelity は、AR/VR/MR向けの高度な計測システムを製造しています。同社の技術は、画期的な新しいスマートデバイスの市場投入を促進し、AR技術がより日常に活用される取り組みを支援するものです。詳細はこちら
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2024-05-21第26回インターフェックスジャパンに出展いたします。 会期：2024年6月26日(水)～28日(金) 会場：東京ビッグサイト 小間番号：35-19 来場事前登録出展品：ポータブル 画像式 粒度分布測定器 “VisiSize P15+ Portable”、レーザー回折式 粒度分布測定装置 “HELOS”、動的画像式 粒度分布測定装置 “QICPIC”
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2024-05-21人とくるまのテクノロジー展2024に出展致します。会期：2023/5/22～24 10:00～18:00（最終日のみ17:00終了）会場：パシフィコ横浜事前登録制 展示会サイト 出展品：ポータブル画像式粒度分布測定器“VisiSize Portable”、InfraTec ハイエンドサーモグラフィカメラ “ImageIR”
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2024-05-21JPCA Show2024に出展致します。会期：2024年6月12日(水)～14日(金) 会場：東京ビッグサイト 東展示棟 事前登録サイトハイエンド サーモグラフィ ImageIR（Infratec）を出展致します。
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2022-06-22粒度分布測定装置の専業メーカー Sympatec社の専門サイトを開設しました。
乾式分散技術のパイオニアであるSympatec社の製品・サービス・アプリケーションについて、より詳細な情報を発信します。
営業所等
大阪支店 ：〒533-0033 大阪市東淀川区東中島1-20-12
TEL 06-6323-7286 FAX 06-6323-7283
名古屋支店：〒460-0003 名古屋市中区錦3-1-30
TEL 052-205-9711 FAX 052-205-9713
営業品目
レーザー発振器各種，レーザー関連装置･機器，レーザー応用計測装置，
レーザー応用加工装置，その他光学機器･装置
掲載製品一覧
製品名 |
価格 |
分類 |
|---|---|---|
| 320nm & 349nm 単一周波数 CW DPSSレーザー | お問い合わせください | 光源・照明器具 |
| attocube レーザー干渉計変位センサ | お問い合わせください | 上記以外の工業量測定・試験機器 |
| CSI社SPM（広帯域C-AFM, シングルパスKFM） | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| InfraTec ハイエンドサーモグラフィカメラ “ImageIR” | お問い合わせください | 熱測定装置 |
| Molecular Vista ナノIR分光顕微鏡 | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| ≦100nm分解能 ミクロスフィア式 フルカラー超解像光学顕微鏡 | お問い合わせください | 顕微鏡 |
| インライン濁度・濃度・色度計 | お問い合わせください | 溶液分析計 |
| ガス（アルゴン・ヘリウムネオン）レーザー | お問い合わせください | 上記以外の光分析装置 |
| ポータブル 画像式 粒度分布測定器 “VisiSize P15+ Portable” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| レーザー回折式 粒度分布測定装置 “HELOS” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| ローコスト・高イメージング品質 Nanoview 1000 AFM | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| 低価格・コンパクト原子間力顕微鏡 CrabiAFM | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| 光ファイバ端面検査装置 | お問い合わせください | 上記以外の顕微鏡・光学検査機器 |
| 動的画像式 粒度分布測定装置 “QICPIC” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| 流体の可視化 PIV シートレーザー光源 “DPGLシリーズ” | お問い合わせください | 局所排気装置 |
| 高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ | お問い合わせください | 膜厚計・厚さ計（M） |
| 高解像度ダイヤモンドAFMカンチレバー | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |