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掲載会社情報

サーモフィッシャーサイエンティフィックグループ 日本エフイー・アイ(株)

住所: 140-0002 東京都品川区東品川4-12-2 品川シーサイドウエストタワー1F
TEL: 03-3740-0970
FAX: 03-3740-0975
URL: http://www.fei.co.jp
担当者: 営業部
E-Mail: sales-jp@fei.com

営業所等

営業品目

透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、デュアルビーム装置

掲載製品一覧

製品名 価格 分類
thermoscientific デュアルビーム「HeliosG4 PFIBデュアルビーム」 お問い合わせください 上記以外の電磁気分析装置
thermoscientific 多目的超高分解能走査型電子顕微鏡Apreo お問い合わせください 走査電子顕微鏡
thermoscientific フルデジタル走査透過型電子顕微鏡 Talosシリーズ お問い合わせください 透過電子顕微鏡
thermoscientific 収差補正走査透過型電子顕微鏡 Themisシリーズ お問い合わせください 透過電子顕微鏡
thermoscientific Ga+イオン型高性能デュアルビームHeliosシリーズ お問い合わせください 上記以外の電磁気分析装置
thermoscientific Ga+イオン型多次元解析用デュアルビームScios 2 お問い合わせください 上記以外の電磁気分析装置