蛍光Ｘ線膜厚計 FT110Aシリーズ
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自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。 ・試料を置くだけで測定可能 ・50nmの薄金メッキの膜厚を10秒で測定 ・ 標準試料なしの測定が可能 ・広域観察システムによる簡単位置決め
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HPLC、UHPLC、質量検出器、GC-MS、熱分析・粘弾性装置、分光分析装置、 原子吸光光度計、ICP-OES、蛍光X線分析装置、蛍光X線膜厚計、TOF-SIMS他