蛍光Ｘ線膜厚計 FT160シリーズ
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微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。 ・X線光学系にポリキャピラリを採用 ・検出器系に高性能半導体検出器（SDD）を採用 ・画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能 ・シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作
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営業品目
HPLC、UHPLC、質量検出器、GC-MS、熱分析・粘弾性装置、分光分析装置、 原子吸光光度計、ICP-OES、蛍光X線分析装置、蛍光X線膜厚計、TOF-SIMS他