走査電子顕微鏡(SEM)-エネルギー分散型X線分析装置(EDS)による粒子解析システムです。AZtecLiveシステムにオプション搭載し、ナノ～マイクロメートルサイズの粒子の検出・形状・計測・分類を自動で行います。電子顕微鏡ステージを自動制御して複数視野にわたる広域試料でも連続運転ができます。専用のナビゲータやステップ毎のSOP^*表示、そして新機能のしきい値/粒子分類クラス自動設定機能など、初心者から熟練者まで自在に使いこなせます。AZtecLiveのTruQ IQ^**技術による優れた自動定性・定量能力で未知の粒子も正確に同定します。
部品の清浄度検査、金属介在物、電池材料などアプリケーションに特化した分析オプションも充実しています。

*SOP：標準業務手順書(Standard Operating Procedure)。操作画面毎に手順を確認することができます。
**TruQ IQ：正確なEDS分析のためのオックスフォード・インストゥルメンツ独自のスペクトル解析技術です。バックグラウンド除去・ハードウエア特性の数値化・パルスパイルアップ補正・自動定性機能などの技術により、正確な定量分析結果を導き出します。

■ 分析オプション AZtecClean(部品清浄度検査)、AZtecSteel(鉄鋼中介在物の評価)、AZtecAM(金属3Dプリンタ用粉末の異物検査)、AZtecBattery(電池材料粒子の異物検査)、AZtecMineral(資源鉱物のMLA)、AZtecGSR(拳銃残さ計測)、AZtecAsbestos(アスベストの自動識別)、AZtecGeo(鉱物の自動識別)