【　特　長　】
省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです。
◎単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
◎空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
◎X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です。
◎顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です。
◎小型・軽量で省スペース化を実現しました。

【　使　用　例　】
◎主面方位の測定
◎切り出し方位の確認・調整
◎結晶性評価
◎結晶成長、加工関連
◎半導体デバイス製造・開発
【　仕　様　】
X線　　　　 ：W 30kV/1.5mA 空冷
入射方向 　 ：垂直下向き
照射径　　　：φ1.0mm(標準コリメータ搭載時)
測定時間　　：60秒 ※代表例
試料ステージ：6軸(θ/Tan./Rad./X/Y/Z)
外形寸法　　：W224×D364×H480mm
本体重量　　：約24kg