エネルギー分散型の蛍光Ｘ線分析装置です。　電子冷却式の半導体検出器を搭載しています。固体から粉末状・ペースト状・液体まで測定が可能です。
多層のメッキ厚測定や皮膜中の組成分析を同時に算出します。

ＲｏＨＳ等の有害物質の分析を可能にするプライマリーフィルターやＳＤＤ検出器を搭載しております。　バルクの分析はもちろん皮膜中の分析も可能にした装置です。