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WEB科学機器総覧

SEM/TEM組込み型 その場観察ナノインデンターPIシリーズ

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電子顕微鏡内でナノ力学特性評価

SEM/TEM に搭載することで、応力を掛けた際の試料変形をその場観察することが可能です。応力・歪みの定量測定とリアルタイム試料観察を同時に実現します。

■ 変形・破壊現象を直接観察が可能
■ ナノ材料の機械特性が可能
■ 押し込み、圧縮、引張、曲げ、スクラッチなど様々な変形モードの評価に対応
■ 力学試験と電子顕微鏡像の同時取得により、破壊現象の深い考察が可能
■ 1000℃の加熱試験、-130℃の冷却試験、電気測定など幅広い条件下における測定に対応

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営業品目

NMR,ESR,TD-NMR,MRI,MALDI,ESI,GC,XRD,XRF,MicroCT,AFM,CSI,
摩擦摩耗/微小硬さ,電子顕微鏡用EDS,FT-IR,FT-NIR,ラマン分光計