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WEB科学機器総覧

X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron

価格は別途お問い合わせください

Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石、その他さまざまな単結晶材料の「結晶の不完全性の評価」「積層欠陥像」「転位像」「析出物の点状像」「不純物濃度変化による、ゆるい縞状コントラスト」をX線トポグラフ(X線回折顕微法)により非破壊で調べることができるシステムです。

・高輝度微小X線光源採用
・X線トポグラフに特化されたX線ミラー光学系
・2波長(Mo線源/Cu線源)自動切換機能
・高解像度・高分解能X線CCDカメラ
・3Dセクショントポグラフ
・結晶欠陥自動解析ソフトウェア

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営業品目

X線回折装置、蛍光X線分析装置、薄膜評価用X線分析装置、熱分析装置、
発生ガス分析装置、熱伝導率測定装置、携帯型成分分析計、携帯型ラマン分光計、
X線CT、X線非破壊検査装置 他