数十年に渡る研究＆開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。ブルカーのFastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Reserach（XR）SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料およびナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。