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ブルカー原子間力顕微鏡 AFM Dimension XR

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数十年に渡る研究&開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。ブルカーのFastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Reserach(XR)SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料およびナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。

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営業品目

NMR、ESR、TD-NMR、MRI、MALDI 、ESI、GC、XRD、XRF、マイクロCT、AFM、CSI、摩擦摩耗/微小硬さ、電子顕微鏡用EDS他分析装置、FT-IR、FT-NIR、ラマン分光計