製品情報

X線透過式沈降法粒度分布測定装置 SediGraph ®III Plus

¥8,560,000~

長い実績の沈降法に光よりも波長の短いX線を採用する事により0.1μmのサブミクロン領域から300μmまでより高精度な測定を可能にしました。また測定セルをスキャンする事により測定精度を落とさず測定時間を短縮。検出器は光電子倍増管を使用しX線吸収率を測定するので光が透過しない非常に高濃度なサンプルも希釈しないで原液のまま測定できる点が大きな特徴です。測定原理上(X線沈降法)、粒子の形状に影響を受けることが無く物理的な現象を捉えて粒子径分布を導き出します。装置はPCにより自動制御されオプションのオートサンプラ接続により最大18サンプルの自動連続測定が可能です。

・X線(波長1.25Å)の採用によりサブミクロン領域まで他の濃厚系測定装置に比較しより高分解/高精度に測定
・パソコンによる自動化により最短で僅か3分で測定完了
・一度に0.1μm~300μmまでのワイドレンジ測定
・オートサンプラ接続(オプション)により無人で連続測定が可能

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営業品目

比表面積・細孔分布測定装置、高圧ガス吸着装置、触媒物性評価装置、
粒度分布測定装置、水銀ポロシメーター、かさ/タップ密度測定装置、
粒子画像解析装置、粉粒体強度測定装置