原子間力顕微鏡(AFM) NX-Wafer
お問い合わせください
パークシステムズのNX-Waferは、製造環境における様々なサイズのウェーハサイズに対応したウェーハ用完全自動AFM装置です。微細な表面荒さ、長距離プロファイリング、自動欠陥検査(ADR)機能に対応しています。この完全自動化に対応した産業用AFMは、クロストーク除去(XE)で生まれたアーティファクトのない計測や非接触モードによるプローブの長寿命化によるコスト削減も実現しているので、まさに理想的な自動AFMです。
・多彩なウェーハサイズに対応(~300mm径まで各種)
・クリーンルーム仕様・遠隔制御
・自動チップ交換
・ウェーハ自動測定のための多種のフロントエンドモジュール(EFEM)
・CMPプロファイリング用の長距離移動ステージ(オプション)
・自動欠陥検査(ADR)オプション

パーク・システムズ・ジャパン(株)
- 〒101-0054 東京都千代田区神田錦町1-17-1
- TEL 03-3219-1001 FAX 03-3219-1002
- URL https://www.parksystems.com/jp/
営業品目
Park Systems Corp.(Suwon, Korea)製 走査プローブ顕微鏡(SPM)、イメージングエリプソメーター、アクティブ除振台