iX05は、高温、低温、高ひずみ速度など、幅広いオペランド条件下での材料特性解析に最適な、MEMSベースのスタンドアロン型ナノインデンターです。
iX05はMEMS技術による高解像度と高速性、そして高速制御エレクトロニクスおよび環境制御と組み合わせることで、iX05は幅広い試験条件下で材料の機械的特性を測定および可視化できる究極のツールとなっています。