iX05は、高温、低温、高ひずみ速度など、幅広いオペランド条件下での材料特性解析に最適な、MEMSベースのスタンドアロン型ナノインデンターです。

従来のナノインデンターは、実験室の条件下で材料を測定することに特化していますが、実際の用途で使われる材料は機械的特性に大きな影響を与える過酷な環境にさらされている場合があります。

iX05は、こうした材料が置かれる現実の環境を再現した条件下で試験を行えるように最適化されています。

MEMS技術による高解像度と高速性、そして高速制御エレクトロニクスおよび環境制御と組み合わせることで、iX05は幅広い試験条件下で材料の機械的特性を測定および可視化できる究極のツールとなっています。