卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX
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異物粒子の検出から、サイズ・形状計測、元素分析、分類、レポート作成までを完全自動化。高輝度・長寿命のCeB6電子銃、シンプルな光学系、スマートなアルゴリズムにより全自動粒子解析で求められる高画質・高速・高精度測定を実現。自動車部品の清浄度検査、鉄鋼介在物、電池材料、金属AM粒子の品質管理に利用されています。
特徴
●サイズ・形状・成分を自動高速取得
●最高クラスの繰り返し精度・再現性
●各分野に特化した5つの専用モデル
1.自動社部品清浄度検査(ISO16232)
2.電池材料の品質管理
3.鉄鋼介在物評価(ASTM E45他)
4.粒子材料特性評価
5.射撃残渣分析(GSR)

ジャスコインタナショナル(株)
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営業品目
卓上SEM、画像解析粒度分布計、卓上NMR、質量分析装置、有機元素分析装置、電気炉、キセノン促進耐候性試験機、XRFコアスキャナ、ISO準拠試験片製造用金型、その他