エネルギー分散型の蛍光Ｘ線分析装置です。 電子冷却式の半導体検出器を搭載。固体から粉末状，ペースト状，液体まで測定は可能です。

コンパクト設計の装置なので貴金属の買取店舗への設置にも最適で，刻印との相関関係を簡単に非破壊で判断できます。また，膜厚測定も可能です。
メッキ厚測定と材料分析がこの1台で可能になります。
省スペースモデルで半導体検出器（PINタイプ）、シリコンドリフト検出器（SDD）タイプをラインナップ。