電磁式膜厚計 SWT-NEO-F
¥210,000
0~2.5mmのワイドレンジ、ゼロ・標準調整ですぐに測定可能
塗装/ライニング/メッキなど
・測定範囲:0~2.50mm
・表示分解能:1μm:0~999μm
切替で 0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.50mm
・測定精度:均一面に対して
0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%、
101μm~2.50mm:±2%以内
・表示方式:LCDデジタル、バックライト付
・プローブ:1点定圧接触式、Vカット付、φ13×48mm
・使用温度:0~40℃(結露無し)
・電 源:単3乾電池(1.5V)×2 オートパワーオフ
・寸法重量:72×32×156、約270g
・付属品:標準厚板、テスト用ゼロ板、収納ケース

(株)サンコウ電子研究所
- 〒213-0026 神奈川県川崎市高津区久末1677
- TEL 044-751-7121 FAX 044-755-3212
- URL https://www.sanko-denshi.co.jp
- E-Mail info@sanko-denshi.co.jp
営業品目
膜厚計(電磁誘導式/渦電流式/デュアル),ピンホール探知器(高電圧放電式,
湿式電気抵抗式),鉄片探知器(検針器),鉄筋探査機,水分計(赤外線加熱乾燥式,
電気抵抗式),結露計他