【特長】
・高速スキャン – 波長ドライブの速度は最大 7000nm/min。
・要求に応じてGLP/GMP/GRPに適合した管理設定を行うことができます。
・詳細な監査証跡を備えた広範な管理機能。
・21CFR Part 11準拠（電子記録/電子署名機能）
・ランプ使用量自動検出システム。
・低迷光 – 0.05% 未満の迷光。
・ランプ使用量自動検出システム。
・ダスト フィルターにより、機器の内部部品をコンタミフリーに保ちます。
【仕様】
・型番 OSK 75QF T6U / T6V ・受光光学系 スプリットビームモニタリングレシオシステム(Split beam monitoring ratio system)
・波長範囲 190~1100nm/ 325~1100nm
・波長精度 ±1nm /±2nm
・波長再現性 ≦0.2nm : ≦0.4nm
・スペクトル帯域幅 2nm
・迷光 ≦0.05%T / ≦.1%T
・測光範囲 -0.3~3Abs/ -0.3~3A
・測光精度 ±0.002Abs(0~0.5A)
・±0.004Abs(0.5~1A)
・±0.3%T(0~100%T)
・測光再現性 ≦0.001A(0~0.5A)
・≦0.002A(0.5~1A)
・≦0.15%T(0~100%T)
・ベースライン平坦度 ±0.002A (200~1000nm)/ ±0.002A (325~1000nm)
・測光ノイズ ±0.001A　(500nm,p-p), 30分ウォームアップ
・ベースライン安定性 ≦0.001A/h(500nm,0Abs), 2時間のウォーミングアップ
・寸法 W*D*H 476×362×225 mm
・重量 11 kg