材料中のサブナノサイズの空隙を評価できる「陽電子寿命測定法」の普及型装置です。金属、半導体、高分子、ガラス等広範囲な材料を評価できます。特許技術や専用ソフトウェアにより、コンパクト性と操作性が向上し、簡単に測定が可能です。
※写真は装置本体のみです。測定には付属機器類を接続して使用します。

【アプリケーション例と特長】
●金属・半導体の空孔型格子欠陥評価（原子空孔、転位等）
●高分子中の自由体積サイズ評価
●測定から解析まで数クリックで実行可能な専用ソフトウェア
●机上に設置できるコンパクト性
　（W400×D400×H350mm）
●法規制対象外の密封線源を使用