LE-373は磁性金属上のメッキや塗装などの非磁性被膜厚を測定する膜厚計です。LH-373は非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。LZ-373は磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。どのモデルもコンピュータにデータを転送することができ、アプリケーション（検量線）メモリ機能、測定データ・メモリ、膜厚管理の上下限値設定、簡単な統計処理、データ出力など16種の機能を装備しています。プリンタや測定スタンド、外部出力ケーブル、データ管理ソフトウェアなどのオプションも充実しています。
LE-373
・測定方式：電磁誘導式
・測定対象：磁性体上の非磁性被膜
・測定範囲：0～2500μmまたは99.0mils
・測定精度：50μm未満：±1μm
　　　　　　50μm以上1000μm未満：±2％
　　　　　　1000μm以上：±3％
・寸法質量：75×145×31　0.34kg
LH-373
・測定方式：渦電流式
・測定対象：非磁性金属上の絶縁被膜
・測定範囲：0～1200μmまたは47.0mils
・測定精度：50μm未満：±1μm
　　　　　　50μm以上1000μm未満：±2％
　　　　　　1000μm以上：±3％
・寸法質量：75（W）×145（D）×31（H）㎜、0.34kg
LZ-373
・測定方式：電磁誘導式/渦電流式兼用
・測定対象：磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
・測定範囲：電磁式 0～2500μmまたは99.0mils
　　　　　　渦電流式 0～1200μmまたは47.0mils
・測定精度：50μm未満：±1μm
　　　　　　50μm以上1000μm未満：±2％
　　　　　　1000μm以上：±3％
・寸法質量：75（W）×145（D）×31（H）㎜、0.34kg