(株)日本レーザー
| 住所： | 169-0051 東京都新宿区西早稲田2-14-1 |
|---|---|
| TEL： | 03-5285-0861 |
| FAX： | 03-5285-0860 |
| URL： | https://www.japanlaser.co.jp/ |
| 担当者： | 営業本部 |
| E-Mail： | jlc@japanlaser.co.jp |
レーザー専門商社の草分けとして1968年に設立され、レーザー技術を日本市場に紹介したパイオニア的存在として業界では認知されています。
現在では、レーザーおよび光関連製品の海外メーカーと代理店契約を結び、世界各国から優れた製品を輸入すると共に、自社製品開発も手がけています。取扱製品の概要は以下のとおりですが、詳細はWEBサイトをご覧ください。
レーザー：あらゆる業種・用途に対応できる多彩な最先端レーザー製品
アクセサリー：光学部品や変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、保護メガネなど
計測応用装置：粒子径分布測定、流体・粒子サイズ測定、半導体・FPD関連検査装置、サーモカメラなどの最先端機器・装置
加工応用装置：半導体・液晶・マイクロマシン・ナノテクノロジーなどの技術に対応した各種装置
トピックス
営業所等
大阪支店 ：〒533-0033 大阪市東淀川区東中島1-20-12
TEL 06-6323-7286 FAX 06-6323-7283
名古屋支店：〒460-0003 名古屋市中区錦3-1-30
TEL 052-205-9711 FAX 052-205-9713
営業品目
レーザー発振器各種，レーザー関連装置･機器，レーザー応用計測装置，
レーザー応用加工装置，その他光学機器･装置
掲載製品一覧
製品名 |
価格 |
分類 |
|---|---|---|
| ローコスト・高イメージング品質 Nanoview 1000 AFM | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| 光ファイバ端面検査装置 | お問い合わせください | 上記以外の顕微鏡・光学検査機器 |
| 高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ | お問い合わせください | 膜厚計・厚さ計（M） |
| 高解像度ダイヤモンドAFMカンチレバー | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| InfraTec ハイエンドサーモグラフィカメラ “ImageIR” | お問い合わせください | 熱測定装置 |
| インライン濁度・濃度・色度計 | お問い合わせください | 溶液分析計 |
| ポータブル 画像式 粒度分布測定器 “VisiSize P15+ Portable” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| 流体の可視化 PIV シートレーザー光源 “DPGLシリーズ” | お問い合わせください | 局所排気装置 |
| 液体ケミカルIRアナライザ “ChemDetect” | お問い合わせください | 上記以外の吸光分光分析装置 |
| NKT Photonics スーパーコンティニューム光源 | お問い合わせください | 光源・照明器具 |
| attocube レーザー干渉計変位センサ | お問い合わせください | 上記以外の工業量測定・試験機器 |
| Molecular Vista ナノIR分光顕微鏡 | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| 分子間相互作用解析装置 QCM-D “qCellシリーズ” | お問い合わせください | 相互作用解析装置 |
| CSI社SPM（広帯域C-AFM, シングルパスKFM） | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| 低価格・コンパクト原子間力顕微鏡 CrabiAFM | お問い合わせください | 走査プローブ顕微鏡（SPM） |
| ケミカルイメージング顕微鏡 “Spero” | お問い合わせください | 上記以外の吸光分光分析装置 |
| 超音波減衰式 粒度分布測定装置 “OPUS” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| ガス（アルゴン・ヘリウムネオン）レーザー | お問い合わせください | 上記以外の光分析装置 |
| レーザー回折式 粒度分布測定装置 “HELOS” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |
| 動的画像式 粒度分布測定装置 “QICPIC” | お問い合わせください | 粒径・粒度分布測定装置 |