製品情報

ナノ粒子解析装置 nano Partica(ナノパーティカ) SZ-100V2シリーズ

¥8,500,000~

ナノサイズのキャラクタリゼーションを解析する重要な3つの要素測定(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)を一台に集約。ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能。わずか100μLサンプリングでのゼータ電位の測定が可能。コロイド粒子、機能性ナノ材料、高分子、ミセル、リポソーム、ナノカプセルなど幅広い応用分野に適合。

ハイパワーレーザを標準で搭載(SZ-100H2)。散乱光信号が弱い小さな粒子や希薄試料、濃縮が困難な試料に対応可能
光学系レイアウトの改良によりS / N比が改善、測定感度がUP
レーザ光源の波長やフィルタオプションも充実し、幅広い用途や応用に対応可能
Dual光学系とHORIBAオリジナルのコリレータ採用による高性能化を実現
Dual微小容量電気泳動セルにより、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定可能

粒子径測定レンジ:0.3nm~10μm
レーザの出力:10mW(100mW)
粒子径測定精度:ISO13321準拠規格
NISTトレーサブル単分散ポリスチレンラテックス 100nmに対して測定精度±2%(ただし、標準粒子自体のバラつきを含まない)
分子量測定レンジ:1×103~2×107 Da
ゼータ電位測定レンジ:-500~+500mV

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営業品目

自動車計測機器、環境用計測機器、科学計測機器、医用計測機器、半導体用計測機器の製造販売。 分析・計測に関する工事、その他の建設工事ならびにこれらに関する装置・機器の製造販売。