卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX
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短時間での異物粒子の検出から、サイズ・形状計測、元素分析、分類、レポート作成までを完全自動化します。粒子を捉える高画質、数千~数万個の粒子を解析するスピード、測定の再現性。高輝度・長寿命のCeB6電子銃、シンプルな光学系、スマートなアルゴリズムにより全自動粒子解析で求められるこれら3つの性能を実現します。
特徴
●クリアな粒子像を自動粒子解析で実現
●良質なデータを1秒1粒子で取得
●最高クラスの繰り返し精度・再現性
●各目的に特化した5つの専用モデル
1.製造部品清浄度検査、2.電池材料品質管理、3.粒子材料特性評価、4.鉄鋼介在物評価、5.射撃残渣分析
ジャスコインタナショナル(株)
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営業品目
卓上SEM、画像解析粒度分布計、卓上NMR、質量分析装置、有機元素分析装置、電気炉、キセノン促進耐候性試験機、XRFコアスキャナ、ISO準拠試験片製造用金型、その他