ブルカー原子間力顕微鏡 AFM Dimension XR
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数十年に渡る研究&開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。ブルカーのFastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Reserach(XR)SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料およびナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。
ブルカージャパン(株)
- 〒221-0022 神奈川県横浜市神奈川区守屋町3-9
- TEL 045-522-7700 FAX 045-453-1827
- URL https://www.bruker.com/ja.html
営業品目
NMR,ESR,TD-NMR,MRI,MALDI,ESI,GC,XRD,XRF,MicroCT,AFM,CSI, 摩擦摩耗/微小硬さ,電子顕微鏡用EDS他分析装置,FT-IR,FT-NIR,ラマン分光計