製品情報
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0114 顕微鏡・光学検査機器
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断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ CPマークII SM-09020CP
\13,000,000
好評をいただいているクロスセクショ
ンポリッシャ（ＣＰ）で加工中の断面
観察を可能にしました。半導体材料や
環境関連等あらゆる分野での研究・開
発・品質管理の試料作製を支援します。
●表面に対して垂直な断面をＣＣＤズ
ームカメラでモニタすることにより加
工時間の短縮が図れます。●出来栄え
をモニタすることによって内部構造が
リアルタイムに確認できます。●ピエ
ゾバルブで最適アルゴンガス流量を簡
単にコントロールできます。●高倍率
ＣＣＤカメラ（オプション）を使用す
ると精度2μmの位置合わせが可能です。
●回転試料ホルダ（オプション）を使
用すると表面研磨も可能です。
日本電子(株)
〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3-1-2
TEL 042-543-1111 FAX 042-546-3353
URL
http://www.jeol.co.jp/
E-Mail
webmaster@jeol.co.jp
営業所等
札幌/仙台/筑波/東京/横浜/大阪/名古屋/広島/福岡
営業品目
EM,FE SEM,SEM･電子プローブマイクロアナライザ,XPS,SPM,蛍光X線分析装置,FT NMR,ESR,LC- TOFMS,GC/MS
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A0343023